Fagmessen VTM Summit 2023 nærmer sig, og hos ZEISS arbejder firmaets eksperter inden for måleteknik på højtryk for at blive klar til at vise den samlede portefølje af løsninger på området. Messen holdes den 25.-28. april i Odense Congress Center, og ZEISS ser frem til bl.a. at kunne præsentere ZEISS METROTOM CT-scannere og ZADD-software, multisensor koordinatmålemaskinen O-INSPECT 543 samt den seneste generation af ZEISS CONTURA.

ZEISS METROTOM OG ZADD
Besøgende på ZEISS’ stand kan høre mere om ZEISS METROTOM CT-scannere og ZADD til effektiv opmåling eller defektanalyse af især plast-, komposit- og letmetalemner. ZADD (ZEISS Automated Defect Detection) sætter nye standarder ved at anvende kunstig intelligens i kombination med 3D røntgen CT-scannere.

ZADD detekterer, lokaliserer og klassificerer defekter og uregelmæssigheder i støbte emner automatisk. Defekterne og uregelmæssighederne analyseres ud fra røntgen CT-scanning. Baseret på ROI (Regions of Interest) vurderer ZADD-softwaren, om en given defekt vil udgøre et problem, og om komponenten evt. skal kasseres.

O-INSPECT 543
Gæster på ZEISS’ stand kan se O-INSPECT 543, en multisensor koordinatmålemaskine som kombinerer fordelene ved taktil og optisk måling, og som tilføjer yderligere funktioner med ZEISS’ nye DotScan, der måler berøringsfrit med hidtil uset præcision.

CONTURA 7/10/6
Den seneste generation af ZEISS CONTURA byder på endnu flere varianter end de tidligere. Udvalget af sensorer spænder fra VAST XT Gold scanningtasthoved over RDS drej-/svingbart hoved med over 20.000 positioner til optiske målesystemer, rundbord mv. CONTURA fås i størrelser fra 700 x 700 op til 1200 x 2400 mm.

Besøgende på ZEISS’ stand kan endvidere se nyheder i softwarepakken CALYPSO, lige som man kan få en introduktion til ZEISS’ dataopsamlings- og rapporteringssoftware PiWeb.

Læs mere om VTM Summit på messens hjemmeside.

Vil du holde dig opdateret om nyt inden for måleteknik? Så tilmeld dig ZEISS’ IQS-nyhedsbrev her.