Nordisk elektronikkonference i Danmark

I dagene 27.-28. november er det atter tid til konferencen og messen Nordic Test Forum, som i år finder i sted i Danmark. Hovedtemaet er rf-test.

Af Henrik Eilers

12. november 2007 10:27

Konferencen turnerer mellem de nordiske lande og afholdes altid i november. I år kommer Michael J. Smith fra Teradyne som en af oplægsholderne. Han vil give sin vision af, hvordan testning af elektronik vil udvikle sig i de kommende år. Det skriver Elektroniktidningen. Et andet punkt på programmet bliver fjernstyrede tests, hvor deltagerne vil blive præsenteret for et aktuelt indblik i et projekt om Universal Testing Communication Standard fra det finske universitet Uleåborg. Andre emner på konferencen bliver automatisk optisk inspektion og test med røntgen. Konferencen finder sted i Snekkersten.

{{ comments.count === 1 ? '1 kommentar' : comments.count > 1 ? '{0} kommentarer'.replace('{0}', comments.count) : 'Skriv en kommentar' }}

Ved at sende kommentaren accepterer du samtidig betingelserne. Se betingelserne

Generelle retningslinjer for kommentarer:

• Skriv i en god tone og hold dig til emnet
• Brug kun links, hvis de er relevante for debatten
• Undgå brug af personfølsomme oplysninger såsom person- eller kontonumre

Redaktionen forbeholder sig ret til at slette kommentarer uden varsel, hvis de ikke lever op til ovenstående, er af kommerciel karakter eller i strid med loven.

Redaktionen påtager sig ikke ansvar for kommentarernes indhold. Kommentarskribenten kan derfor stilles til ansvar for eventuelle lovovertrædelser – herunder injurielovgivningen.

Kommentarer, der strider mod retningslinjerne, kan anmeldes ved at trykke på ”Rapporter upassende indhold”.

Kommentaren er blevet oprettet.

Din kommentar vil ikke være synlig før du har aktiveret den. Du modtager om lidt en e-mail, hvor du skal klikke på et link, for at aktivere kommentaren.