23948sdkhjf

Nordisk elektronikkonference i Danmark

I dagene 27.-28. november er det atter tid til konferencen og messen Nordic Test Forum, som i år finder i sted i Danmark. Hovedtemaet er rf-test.
Konferencen turnerer mellem de nordiske lande og afholdes altid i november. I år kommer Michael J. Smith fra Teradyne som en af oplægsholderne. Han vil give sin vision af, hvordan testning af elektronik vil udvikle sig i de kommende år. Det skriver Elektroniktidningen.

Et andet punkt på programmet bliver fjernstyrede tests, hvor deltagerne vil blive præsenteret for et aktuelt indblik i et projekt om Universal Testing Communication Standard fra det finske universitet Uleåborg.

Andre emner på konferencen bliver automatisk optisk inspektion og test med røntgen. Konferencen finder sted i Snekkersten.
Kommenter artiklen
Gå til joboversigten
Udvalgte artikler

Nyhedsbreve

Send til en kollega

0.094