Produktnyhed: Nyt IEEE 1149.6 kompatibelt JTAG/Boundary Scan I/O test modul
EP-TeQ ApS, leverandør af løsninger til elektronikproduktion, inspektion og test i Norden og de baltiske lande, viser på Elektronik-08 et nyt I/O modul, der understøtter IEEE 1149.6 til udvidet JTAG/Boundary Scan test fra Göpel Electronic GmbH.
Af Henrik Eilers
- Med dette nye I/O modul adresserer vi det stigende behov for understøtning af strukturel test af avancerede digitale netværk med IEEE 1149.6 funktionalitet, siger Raj Puri, Vice President Marketing and Sales for Göpel Electronic i USA.
- Kombinationen af IEEE 1149.1 og IEEE 1149.6 I/O mulighederne på et enkelt modul til integration i test adaptere, sikrer vores kunder et low-cost alternativ til udvidelse af deres strukturelle test af højhastigheds net på printkort i deres produktion.
CION Module/FXT114S har 64 single-ended test kanaler styret af Göpel’s CION ASIC kredse. Alle kanaler kan uafhængigt styres til Input/Output/Tri-state, og output spændingen kan programmeres mellem 1.8V og 5.0V i grupper af 32. Hver kanal kan også yde en høj strøm og har en speciel sikkerhedsanordning, der kaldes en un-stress feature, der beskytter testemnet mod yderligere skade i tilfælde af fejl. Udover de 64 single-ended I/O kanaler er der så også 50 differentielle I/Os med 1149.6 support. De differentielle kanaler er konfigureret som 25 inputs og 25 outputs. Hvis der er behov for flere kanaler, kan flere moduler let kobles i kæde via deres TAP interface. Disse muligheder gør modulet særdeles velegnet til test af non-Bscan clusters, perifere stik, backplanes og AC-koblede netværk i mange typer applikationer.
Det nye CION modul er fuldt understøttet af den integrerede JTAG/Boundary Scan software platform SYSTEM CASCON, og det kan bruges sammen med en hvilken som helst ScanBooster og SCANFLEX Boundary Scan controller. SYSTEM CASCON er et innovativt udviklingsmiljø til IEEE 1149.x applikationer og inkluderer mere end 38 fuldt integrerede værktøjer. Brugerne kan på enkel vis inkludere CION Module/FXT114S i et testprojekt, generere de ønskede test vektorer fuldautomatisk med ATPG værktøj, der understøtter både IEEE 1149.1 og IEEE 1149.6, og få en detaljeret diagnose som resultat i tilfælde af en fejl under test afviklingen. Fundne fejl visualiseres på pin og net niveau.
Kilde: EP-TeQ - http://www.ep-teq.dk
