Produktnyhed: Ny ”ægte parallel” TAP transceiver til udvidet JTAG/Boundary Scan test
EP-TeQ ApS, leverandør af løsninger til elektronikproduktion, inspektion og test i Norden og de baltiske lande, viser på Elektronik 08 en ny TAP transceiver til den revolutionerende SCANFLEX platform fra Göpel Electronic GmbH til udvidet IEEE 1149.x JTAG/Boundary Scan tests.
Af Henrik Eilers
- Den stigende implementering af JTAG/Boundary Scan i nye komplekse printkort tvinger vores kunder til at kræve en fleksibel og modulær skalérbarhed af vores testløsninger med op til både seks og syv ægte parallelle TAP, siger Thomas Wenzel, direktør for Boundary Scan forretningsenheden hos Göpel Electronic i Jena, Tyskland.
- Med den nye desktop transceiver kan vi tilbyde en banebrydende løsning, specielt til test af prototyper og mindre serier, med prisvindende SCANFLEX hardware platform. Samtidigt får vores kunder nu adgang til den mest omfattende produkt portefølje.
SFX-TAP7 er transceiver type nummer 20 i SCANFLEX serien og kan kombineres med alle typer af SCANFLEX Boundary Scan controllere til alle populære bus-systemer som PCI, PXI, USB, Firewire, LAN og LXI, hvor tilkobling kan foregå med en kabellængde på op til 5 meter til controlleren. Hver enkelt TAP er programmérbar med hensyn til output spænding, input tærskel, impedans, frekvens (op til 80 Mhz) samt delay. Denne fleksibilitet sikrer en optimal kobling til testemnet ved op til 1.5 meter kabel. I tillæg har transceiveren 32 programmérbare parallelle I/O, 2 analoge I/O samt trigger kanaler som standard.
Transceiveren har desuden plads til montering af op til tre SCANFLEX I/O moduler. Forskellige I/O moduler kan give et stort antal ekstra digitale, differentielle eller analoge ressourcer, som kan styres via VarioCore teknologi til ”at-speed” test, debug, konfigurering, verificering, programmering og emulering. Alt i alt kan man stykke et kompakt, men omfattende og slagkraftigt testsystem sammen med disse moduler.
Kilde: EP-TeQ - http://www.ep-teq.dk
